胜达克半导体（上海）获得SOC芯片并行测验切换办法专利经过时钟域切换电路到模仿时钟域能够让两个端口在不同频率下一起发动逻辑测验

  金融界2024年9月8日音讯，天眼查知识产权信息数据显现，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司获得一项名为“一种应用于自动测验机的 SOC 芯片并行测验切换办法“，授权公告号 CN112924850B，请求日期为 2021 年 1 月。

  专利摘要显现，本发明触及半导体测验技能领域，详细地说是一种应用于自动测验机 SOC 芯片并行测验切换办法。详细流程如下：S1：在测验载具板上的数据接口及 MCU 端衔接一组数字测验通道 A，在测验载具板上的以太网接口端衔接一组数字测验通道 B，数字测验通道 B 上衔接时钟域切换电路；S2：设置体系时钟周期为 250MHz；设置模仿时钟周期为 240 MHz；S3：测验时，使用数字测验通道组 A 对被测 SOC 芯片完结微处理器 MCU 的功用测验；使用数字测验通道组 B 对被测 SOC 芯片完结以太网内核的功用测验；S4：测验完结后，判别是否经过，是则被测 SOC 芯片确定合格；不然被测 SOC 芯片确定不合格。同现存技能比较，经过时钟域切换电路切换到模仿时钟域，能够让两个端口在不同频率下一起发动逻辑测验。